論文ナビは研究者によって運営される論文解説プラットフォームです。このページでは、最近二年間(2016-2017)で発表された文献データを独自に収集・集計して分かりやすくまとめました。論文キーワードマップ、代表的な研究機関、頻出キーワード、分野のシェア、分野関連図、関連文献等により、今までない情報を提供します。
代表的な研究機関
diffractionに関する論文を発表している代表的な機関のリストです
- 東北大学
- 大阪大学
- 北海道大学
- 日本原子力研究開発機構(JAEA)
- 理化学研究所
- 高エネルギー加速器研究機構(KEK)
- 株式会社リガク
- 静岡大学
- 兵庫県立大学
- 広島大学
- 新日鐵住金株式会社
- 関西学院大学
- 明治大学
- 山口大学
- CREST(科学技術振興機構:JST)
- 名古屋市立大学
- 信州大学
- 大同大学
- 岩手大学
- 神戸大学
- 熊本大学
- 岡山大学
- 株式会社C&A
- 星薬科大学
- 埼玉大学
- 福岡工業大学
- 北海道科学大学
- 芝浦工業大学
- 国立医薬品食品衛生研究所(NIHS)
- 日本工業大学
- 日本女子大学
- 大阪電気通信大学
- 東北学院大学
- ACT-C(科学技術振興機構:JST)
- 浜松ホトニクス
- 愛知学院大学
- 横浜市立大学
- 東レ株式会社
- 株式会社富士通研究所
- 豊田工業大学
- 香川大学
- 神奈川大学
- 新居浜工業高等専門学校
- 崇城大学
- NHK
- 弘前大学
- 鹿児島大学
- 物質・材料研究機構(NIMS)
- 東京大学
- 茨城大学
- 東京工業大学
- 筑波大学
- 愛媛大学
- 産業技術総合研究所(AIST)
- 東京理科大学
- 量子科学技術研究開発機構(QST)
- 金沢大学
- 高知工科大学
- 首都大学東京
- 日本大学
- 武蔵野大学
- 豊橋技術科学大学
- 山梨大学
- 福島大学
- 上智大学
- 岡山理科大学
- 京都工芸繊維大学
- 防災科学技術研究所(NIED)
- 鳥取大学
- 株式会社豊田中央研究所
- 福井大学
- 海洋研究開発機構(JAMSTEC)
- トヨタ自動車株式会社
- 新潟大学
- 住友電気工業株式会社
- 三重大学
- 九州工業大学
- 名城大学
- 気象庁
- 富山大学
- 情報通信研究機構(NICT)
- 京都府立大学
- 東京薬科大学
- 金沢医科大学
- 東京都立産業技術高等専門学校
- 東京学芸大学
- 高知大学
- 日立製作所
- 徳島文理大学
- 滋賀大学
- 株式会社東芝
- 慈恵大学
- 大分大学
- 千葉工業大学
- 京都大学
- 九州大学
- 名古屋大学
- 高輝度光科学研究センター (JASRI)
- 早稲田大学
- 名古屋工業大学
- 徳島大学
- 慶応義塾大学
- 島根大学
- 立命館大学
- さきがけ(科学技術振興機構:JST)
- 長岡技術科学大学
- 日本学術振興会
- 山形大学
- 奈良先端科学技術大学院大学(NAIST)
- ファインセラミックスセンター
- 大阪府立大学
- 北見工業大学
- 横浜国立大学
- 長崎大学
- JFEスチール株式会社
- 豊田理化学研究所
- 東京電機大学
- 香川高等専門学校
- 電気通信大学
- お茶の水女子大学
- 株式会社神戸製鋼所
- 大阪薬科大学
- 宇都宮大学
- 佐賀大学
- 長崎国際大学
- 北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
- 岐阜大学
- 中央大学
- 青山学院大学
- 成蹊大学
- 法政大学
- ERATO(科学技術振興機構:JST)
- 城西大学
- 日本電信電話株式会社 (NTT)
- 同志社大学
- NTTアドバンステクノロジ株式会社
- 北里大学
- 大阪市立大学
- 福岡大学
- 東京都市大学
- 金沢工業大学
頻出キーワード
diffractionに関する論文で良く出現する論文キーワードを集計しました
- X-ray diffraction (XRD)
- X線回折
- neutron diffraction
- 中性子回折法
- electron backscatter diffraction
- 後方散乱電子回折
- crystal structure
- 結晶構造
- scanning electron microscopy (SEM)
- 走査型電子顕微鏡
- transmission electron microscopy (TEM)
- 透過型電子顕微鏡
- diffraction grating
- 回折格子
- phase transition
- 相転移
- diffraction
- 回折
- molecular beam epitaxy
- 分子線エピタキシャル成長
- microstructure
- 微細構造
- oxides
- 酸化物
- structure elucidation
- 構造解析
- synchrotron X-ray diffraction
- シンクロトロンX線回折
- photoluminescence
- 光ルミネセンス
- organic compounds
- 有機化合物
- wave scattering and diffraction
- X-ray powder diffraction
- X線粉体回折
- high pressure
- 高圧
- wave propagation
- 波の伝搬
- residual stress
- 残留応力
- Rietveld refinement
- リートベルト法
- thin films
- 薄膜
- synchrotron radiation
- シンクロトロン放射
- texture
- X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
- X線光電子分光法
- DFT calculations
- 密度汎関数計算
- single crystal X-ray diffraction
- 単結晶X線構造解析装置
- electron diffraction
- 電子回折
- atomic force microscopy (AFM)
- 原子間力顕微鏡
- nitrides
- 窒化物
- powder X-Ray diffraction
- 粉末X線回折分析
- magnetic properties
- 磁性
- Raman spectroscopy
- ラマン分光法
- coherent X-ray diffraction imaging
- optical properties
- 光学的性質
- silicon (Si)
- ケイ素
- crystal growth
- 結晶成長
- electron microscopy
- 電子顕微鏡
- differential scanning calorimetry (DSC)
- 示差走査熱量測定
- defects
- 欠損
- hydroxyapatite
- ヒドロキシアパタイト
- scanning transmission electron microscopy (STEM)
- 走査透過型電子顕微鏡
- semiconducting iii-v materials
- morphology
- 形態学
- Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR)
- フーリエ変換赤外分光法
- single crystal
- 単結晶
- nanostructures
- ナノ構造
- oxide materials
- recrystallization
- 再結晶
- X-ray free-electron laser (XFEL)
- X線自由電子レーザー
- sapphire
- サファイア
- electrical properties
- 電気特性
- semiconductor
- 半導体
- carrier transport
- 担体輸送
- magnetron sputtering
- マグネトロンスパッタリング
- Al-doped ZnO
- alドープZnO
- seismic attenuation
- 地震波減衰
- GaN
- crystallinity
- 結晶化度
- martensite transformation
- マルテンサイト転移
- molecular dynamics (MD)
- 分子動力学
- epsilon-martensite
- digital image correlation
- デジタル画像相関
- structure determination
- 構造決定
- aging
- 加齢
- titanium alloy
- チタン合金
- stratum corneum
- 角質層
- steel
- 鋼
- surface plasmon resonance (SPR)
- 表面プラズモン共鳴
- scattering
- 散乱
- magnesium alloys
- マグネシウム合金
- characterization
- nanoparticles
- ナノ粒子
- crystallization
- 結晶化
- polymorphism
- 多型
- growth from solutions
- shape-memory alloy
- 形状記憶合金
- equation of state
- 状態方程式
- grain boundary
- 粒界
- buffer layer
- 緩衝層
- heteroepitaxy
- ヘテロエピタキシー
- single-crystal growth
- 単結晶育成
- metals
- 金属
- chemical synthesis
- 化学合成
- crystallographic orientation
- 結晶方位
- transparent conductive oxide
- 透明導電性酸化物
- Ga-doped ZnO
- nanocomposite
- ナノコンポジット
- theoretical seismology
- 理論地震学
- high temperature
- 高温
- X-ray absorption fine structure (XAFS)
- X線吸収微細構造
- crystal morphology
- 結晶形態学
- epitaxial growth
- エピタキシャル成長
- thermoelectric materials
- 熱電材料
- in situ
- dislocation
- 転位
- cyclic voltammetry
- サイクリックボルタンメトリー
- lithium-ion battery
- リチウムイオン電池
- perovskite
- ペロブスカイト
- impedance spectroscopy
- インピーダンス・スペクトロスコピー
- strain
- 系統
- semiconductor laser
- 半導体レーザー
- sodium
- ナトリウム
- oxidation
- 酸化
- semiconducting gallium arsenide
- DFT calculation
- 密度汎関数計算
- surface structure
- 表層構造
- chemical vapor deposition processes
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- 反芳香族性
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- 触媒特性
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- 触媒
- zeta-potential
- ゼータ電位
- self-assembly
- 自己組織化
- nanofabrication
- ナノ加工
- photochemistry
- 光化学
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- magnetic materials
- 磁性材料
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- 極性化
- metalorganic vapor phase epitaxy
- 有機金属気相成長
- solar cells
- 太陽電池
- FE-SEM
- indium
- インジウム
- Mossbauer spectroscopy
- メスバウアー分光法
- magnetic anisotropy
- 磁気異方性
- electrochemical measurement
- 電気化学測定
- polymer
- ポリマー
- ZnO
- 酸化亜鉛
- graphite
- グラファイト
- solid solution
- 固溶体
- electronic structure
- 電子構造
- growth from melt
- ruthenium
- ルテニウム
- solid-state NMR
- 固体NMR
- X-ray fluorescence (XRF)
- 蛍光X線分析
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- エネルギー移動
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- 計算化学
- body waves
- 実体波
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- 金属錯体
- cellulose
- セルロース
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- ナノワイヤー
- density functional theory (DFT)
- 密度汎関数理論
- X-ray scattering
- X線散乱
- in situ measurement
- conducting materials
- 導電性材料
- phosphor
- リン光体
- ceramics
- セラミックス
- fluorine
- フッ素
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- マグネシウム
- corrosion
- 腐食
- polycrystalline deposition
- AlN
- infrared spectra
- 赤外スペクトル
- X-ray absorption spectroscopy
- X線吸収分光法
- thermal stability
- 熱安定性
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- 伝播
- thermal desorption spectroscopy
- 熱脱離分光法
- porphyrinoids
- surface analysis
- 表面分析
- lithium
- リチウム
- interferometry
- インターフェロメトリー
- surface waves and free oscillations
- NMR spectroscopy
- 核磁気共鳴分光法
- semiconducting gallium compounds
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- 陰極
- substituent effect
- 置換基効果
- crystallography
- 結晶学
- metal-organic framework (MOF)
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- 鉄
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- 臨界電流密度
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- シンクロトロン
- MoS2
- 二硫化モリブデン
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- 金属間
- levitation
- 浮揚
- RDF
- copper (Cu)
- 銅
- EXAFS
- 広域X線吸収微細構造
- electrochemical properties
- 電気化学的性質
- hydrogen embrittlement
- 水素脆化
- lysozyme
- リゾチーム
- helical structures
- ヘリックス構造
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- 電子プローブX線マイクロ解析
- glass
- ガラス
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- ストレス
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- 絶対配置
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- 損傷
- zirconia
- ジルコニア
- strain localization
- ひずみ局在化
- dual phase steel
- 複相鋼
- strain distribution
- 歪分布
- grain refinement
- 結晶粒微細化
- Young’s modulus
- ヤング率
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- 双殻類
- thin-film solar cell
- 薄膜太陽電池
- Cu2SnS3
- fused-ring systems
- pi interactions
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- キラル分割
- lattice defects
- 格子欠陥
- anions
- アニオン
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- ラジカル
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- 有機太陽電池
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- 機械粉砕
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- 炭素鋼
- proton transfer
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- 二酸化チタン
- heterostructure
- ヘテロ構造
- BiVO4
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- 希土類元素
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- 酸化ガリウム
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- 結合
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- ナノインデンテーション
- ITER
- Nb3Sn
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- 光学系
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- pyroxene
- 輝石
- boron
- ホウ素
- phosphorus
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- mechanical properties
- 機械的特性
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- martensite
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- エクロジャイト
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- 偏光解析法
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- 光学活性
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- 沈殿
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- アルミナ
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- 複合材料
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- スピン工学
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- 磁性流体
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- 微小構造材料
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- 生長モデル
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- ヒステリシス
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- 酸化的共役
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- circularly polarized luminescence
- 円偏光ルミネセンス
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- 高熱
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- ガドリニウム
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- 光触媒
- hydrothermal synthesis
- 熱水合成
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- コンピュータシミュレーション
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- 結晶子の大きさ
- detector
- 検出器
- fluoride
- フッ化物
- misorientation
- ミスオリエンテーション
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- 光模像
- refractive index
- 屈折率
- heat capacity
- 熱容量
- soil
- 土壌
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- 法科学
- thermal expansion
- 熱膨張
- mica
- 雲母
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- 包接錯体
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- 積分方程式
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- 数値解析法
- metalorganic chemical vapor deposition
- 金属有機化学蒸着法
- GISAXS
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- 弾性
- vibrational spectroscopy
- 振動スペクトル分析
詳細分野シェア
diffractionに関する論文が発表されている詳細分野内訳
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